Hr-contact 는 DC 테스트에 검증된 솔루션입니다. BGA 볼에는 Hr-contact를 , LGA 랜드에는 Hi-contact를 조합하여 중앙 영역에 BGA 솔더 볼이 있고 모서리에 LGA 랜드가 있는 IC 패키지를 테스트하는 데 탁월한 솔루션을 제공합니다. 또한, 일반적으로 사용되는 솔루션에 비해 수명이 길어 테스트 비용을 절감할 수 있습니다.